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PDM-1100相位差光谱分析仪
PDM-1100相位差光谱分析仪是主要运用光谱技术对波片、激光雷达等光学元器件的相位差进行测量分析的仪器，为光学元件质量把控提供数据支撑。该设备可在0~70度之间自定义测量角度，满足不同检测需求。放置好样品即可开始测试，无需建立材料库、无需建模、无需对焦，测试速度快，操作便捷。
波片相位差测量
激光雷达视窗片相位差测量
仪器特点
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相位差测量范围可选，0-180°或0-360；
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0°固定入射或可变角度(0到70度)测量；
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可测量波片、车载雷达窗口片等样品的相位差波长分布情况；
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支持大尺寸样品测量，最大至200mm；
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无需对焦,无需材料库，无需建模，测量速度快。
产品参数
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