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ODMS-3光密度光譜分析儀
ODMS-3光密度光譜分析儀可快速測量樣品涂層的光密度值，測量密度范圍高達(dá)OD6。該設(shè)備可快速測量特定單波長或單波段的OD值，同時還可光學(xué)元件進(jìn)行透過率測量，且具備對小孔徑樣品光譜透過率的快速測量，最小孔徑中1mm。具有高精度測量、高靈敏度調(diào)節(jié)、快速響應(yīng)和操作簡便的特點(diǎn)。主要用于手機(jī)及顯示面板上油墨層的光密度，小孔油墨透過率測量。
儀器特點(diǎn)
1.最大密度測量范圍可達(dá)6 OD;
2.可同時測量UV和VIS區(qū)光密度;
3.集光密度和小孔透過率測量為一體;
4.儀器響應(yīng)速度快，即時測量結(jié)果;
5.支持≥中1mm小孔徑樣品測量;
6.采用數(shù)字視頻對焦定位，可對小區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確測量。
測量對象
產(chǎn)品參數(shù)
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