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Sphere-3000 反射率光譜分析儀
Sphere-3000 反射率光譜分析儀能快速準確地測量各類球⾯/⾮球⾯器件的相對/絕對反射率，適⽤于凸透鏡、凹透鏡、鏡⽚等的鍍膜表⾯反射率測量，還可進⾏有⼲涉條紋的單層膜厚或折射率測量，可應⽤于硅晶太陽能電池板納⽶級膜厚檢測。。
儀器特點
1. 消除背⾯反射光，⽆需進⾏背⾯防反射處理即可快速準確地測定表⾯反射率；
2. CIE顏色測定X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等；
3. 顯微測定微小區域的反射率，物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm)。
測試對象
技術參數
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