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AM-360 光学元件光谱分选仪
AM-360 光学元件光谱分选仪是平⾯光学元件多点多⻆度透/反射率⾃动检测设备。可以根据每种样品⾃定义设置的测试板进⾏多⻆度透过、反射、偏光等批量测试，⼀次性完成全部测试；样品载运平台载运速度快，精度⾼，⾼速实现样品多点多⻆度的透/反射率检测，还可对结果进⾏快速质检和分级，极⼤提⾼检测效率。
仪器特点
1. ⽀持小样品检测；
2. ⽀持偏振光测量；
3. 可⾃定义测量位置；
4. 快速、⽆损、⾃动检测；
5. ⽀持阵列式或⼤样品分点全检；
6. 料盘尺⼨可定制 ；
7. ⽀持测量绝对反射率、相对反射率、绝对透过率、相对 透过率；
8. ⼀键测量出结果，可定制报表输出格式。
测量对象
技术参数
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