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TMS-Pro(单通道)
TMS-D(双通道)
透过率光谱分析仪
TMS-PRO和TMS-D透过率光谱分析仪能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率，可用于同一面板多个小孔测量，实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率。
仪器特点
1. 采用大角度采集全穿透式测量；
2. 可对多孔进行快速测量；
3. 采用数字视频对焦，使微小区域实现精准测量；
4. 实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测，自动调整显示坐标范围，可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析；
5. 可自定义测量方案，设置判定标准，自动判定"OK"和"NG”,使检测更快速，结果更准确；
6. 高性能探测器，单次测量小于1秒，重复性高；
7. 最小测量孔径可达φ0.2mm。
应用领域
>> 手机面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量；
>> 弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量；
>> 太阳膜、滤光片光学元件透光测量。
技术参数
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