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TMS-320 透过率光谱分选仪
TMS-320 透过率光谱分选仪是⼀台光学元件样品透过率批量测试设备，⾼精度电动位移平台⼤幅提升了样品测试速度，可⾃定义样品测量区域，并记录数据实现样品多孔/多点透过率⾃动测量，适⽤于⼿机⾯板的多孔测试、阵列滤光⽚的⾼通量测试、镀膜滤光⽚的质检、分级和均匀性检测。
仪器特点
测试对象
技术参数
